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复合绝缘子芯棒缺陷的红外、紫外诊断特征

时间:2019-03-01  来源:  查看次数:79

            1.  内部缺陷的红外特征

复合的发热来源主要有极化损耗、局部放电、泄漏电流等。前两者都源于缺陷引起的电场过分集中;泄露电流发热多见于绝缘子伞面发生劣化的情况,泄露电流集中在劣化部分,与周围出现明显的温差。通常气隙、碳化通道的端部由于局部放电情况的存在将成为“热点”,而碳化通道中间部分由于电场较弱,往往温度较低。

2.内部缺陷的外特征

复合绝缘子碳化通道和蚀损等缺陷引起电晕时,利用紫外成像仪可对电晕实现观测。紫外法的优点是检测距离远,对电晕的检测灵敏度高,利于尽早发现缺陷,对导通性缺陷的检测灵敏度高于红外法。紫外法的缺点是能检测的缺陷类型较受限,并非所有缺陷都产生稳定电晕,如芯棒表面的裂纹只有受潮后才会产生电晕,但此时绝缘子表面雨滴也可能产生电晕。紫外法对光照有一定要求,对检测位置要求较高,只有在放电的正面才能得到放电图像,因此紫外对于绝缘子局部缺陷的判断则主要处于辅助地位,通常与红外法配合使用。

 

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